Утвержден и введен в действие
Постановлением
Госстандарта СССР
от 26 мая 1982 г. N
2120
ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ СОЮЗА ССР
СПЛАВЫ И ЛИГАТУРЫ РЕДКИХ МЕТАЛЛОВ
СПЕКТРАЛЬНЫЙ МЕТОД ОПРЕДЕЛЕНИЯ КРЕМНИЯ, ЖЕЛЕЗА,
АЛЮМИНИЯ, МАРГАНЦА И ХРОМА В СПЛАВАХ НА ОСНОВЕ ВАНАДИЯ
Alloys
and foundry alloys of rare metals.
Spectral method for
determination of silicon, iron,
aluminium, manganese and chromium in
alloys
on vanadium base
ГОСТ 25278.12-82
Группа В59
ОКСТУ 1709
Срок действия
с 1 июля 1983 года
до 1 июля 1993 года
ИНФОРМАЦИОННЫЕ
ДАННЫЕ
1. Разработан и
внесен Министерством цветной металлургии СССР.
Исполнители: Ю.А.
Карпов, Е.Г. Наварина, В.Г. Мискарьянц,
Г.Н. Андрианова, Е.С. Данилин, М.А. Десяткова, Л.И.
Кирсанова, Т.М. Малютина, Е.Ф. Маркова, В.М. Михайлов, Л.А. Никитина, Л.Г. Обручкова, Н.А. Разницина, Н.А.
Суворова, Л.Н. Филимонов.
2. Утвержден и введен
в действие Постановлением Государственного комитета СССР по стандартам от
26.05.82 N 2120.
3. Срок проверки -
1993 г.
Периодичность
проверки - 5 лет.
4. Введен впервые.
5. Ссылочные
нормативно-технические документы
──────────────────────────────────────┬───────────────────────────
Обозначение НТД, на который дана │ Номер раздела, пункта
ссылка │
──────────────────────────────────────┼───────────────────────────
ГОСТ
3773-72 │Разд. 2
ГОСТ
4173-77 │Разд. 2
ГОСТ
9428-73 │Разд. 2
ГОСТ
10691.1-84 │Разд. 2
ГОСТ
26473.0-85
│1.1
ГОСТ
27068-86 │Разд. 2
6. Срок действия
стандарта продлен до 01.01.1993 Постановлением Госстандарта СССР от 29.10.1987
N 9 4096.
7. Переиздание
(ноябрь 1988 г.) с Изменением N 1, утвержденным в октябре 1987 г. (ИУС 1-88).
Настоящий стандарт
устанавливает спектральный метод определения кремния, железа, марганца и хрома
(от 0,02 до 1%), алюминия (от 0,1 до 1%) в сплавах и лигатурах на основе
ванадия (компоненты: вольфрама не более 10%, молибдена не более 10%, титана не
более 15%, циркония не более 5%).
Метод основан на
зависимости интенсивности спектральных линий кремния, железа, алюминия,
марганца и хрома от их массовой доли в образце при возбуждении спектра в дуге
постоянного тока.
1. ОБЩИЕ
ТРЕБОВАНИЯ
1.1. Общие
требования к методам анализа и требования безопасности - по ГОСТ 26473.0-85.
(Измененная
редакция, Изм. N 1).
2. АППАРАТУРА, МАТЕРИАЛЫ И РЕАКТИВЫ
Спектрограф
дифракционный ДФС-8 с решеткой 600 штр/мм (комплетная установка с универсальным штативом) или
аналогичный ему прибор.
Источник
постоянного тока, обеспечивающий напряжение не менее 260 В
и силу тока не менее 20 А.
Электропечь
муфельная с терморегулятором, обеспечивающим температуру 800 - 900 °С.
Микрофотометр МФ-2
или аналогичный ему прибор.
Чашки платиновые.
Весы аналитические
типа АДВ-200 или аналогичного типа.
Весы торсионные
типа ВТ-500.
Спектропроектор типа ПС-18 или аналогичного типа.
Приспособление для
заточки графитовых электродов.
Ступка и пестик из
органического стекла.
Бокс из
органического стекла.
Электроды
графитовые ОСЧ-7-3 диаметром 6 мм, со сферическим углублением на торце (радиус
сферы - 5 мм, глубина - 1 мм) и заточенные на выпуклую полусферу радиусом 5 мм,
обожженные в дуге постоянного тока при 10 А в течение
7 с.
Вазелин
косметический или аналогичный, чистый по кремнию, железу, алюминию, марганцу и
хрому на уровне 5 х
% масс.
Пластинка из
органического стекла размером 6 х 20 см для смешивания пробы с вазелином.
Подставки из
оргстекла и дерева для электродов с пробой.
Мерник-пластина
толщиной 4 мм с просверленным отверстием диаметром 5 мм.
Пластинки
фотографические спектральные 9 х 12 тип 2, чувств. 15 ед. или аналогичные,
обеспечивающие нормальные почернения аналитических линий.
Ванадия пятиокись спектрально-чистая.
Железа окись по
ГОСТ 4173-77, ч.д.а.
Кремния двуокись по
ГОСТ 9428-73, ч.д.а.
Алюминия окись, ч.д.а.
Аммоний хлористый
по ГОСТ 3773-72.
Натрий серноватистокислый по ГОСТ 27068-86.
Марганца двуокись х.ч.
Хрома окись, ч.д.а.
Спирт этиловый
ректификованный технический по ГОСТ 18300-72.
Проявитель по ГОСТ
10691.1-84.
Фиксаж: 300 г серноватистокислого натрия, 20 г хлористого аммония
растворяют соответственно в 700 и 200 см3 воды, сливают полученные растворы
вместе и доводят общий объем водой до 1 дм3.
Секундомер.
Калька.
Вата.
Шпатель.
Скальпель.
Пинцет.
Лампа инфракрасная
ИКЗ-500 с регулятором напряжения типа РНО-250-0,5 или регулятором аналогичного
типа.
(Измененная
редакция, Изм. N 1).
3.
ПОДГОТОВКА К АНАЛИЗУ
3.1. Приготовление
основного образца сравнения (ООС), содержащего по 5% кремния, железа, алюминия,
марганца и хрома.
Образцы сравнения
готовят на основе, представляющей собой чистую пятиокись
ванадия (при суммарном содержании легирующих компонентов в сплаве до 8%) или
искусственную смесь окислов, имитирующую состав анализируемого сплава (основа).
1,3400 г основы,
0,1069 г двуокиси кремния, 0,0715 г окиси железа, 0,0945 г окиси алюминия,
0,0790 г двуокиси марганца, 0,0730 г окиси хрома перетирают в ступке из
органического стекла под слоем спирта (30 см3) в течение 1,5 - 2 ч. Смесь
просушивают под инфракрасной лампой до постоянной массы. Перед взятием навесок
оксиды прокаливают при температуре 400 °С до
постоянной массы.
Массу навесок
взвешивают на весах, шпателем пересыпают в пакеты из кальки. Шпатель, лодочку
весов, ступку протирают ватой, смоченной спиртом. Для приготовления пакетов
кальку разрезают скальпелем.
(Измененная
редакция, Изм. N 1).
3.2. Приготовление
образцов сравнения (ОС) последовательным разбавлением основного образца
сравнения, а затем каждого последующего образца основой.
Массовая доля
каждой из определяемых примесей в образце сравнения (в процентах в расчете на
содержание металла в смеси металлов) и масса вводимых в смесь навесок основы и
разбавляемого образца указаны в табл. 1.
Таблица 1
────────────┬────────────────────┬────────────────────────────────
Обозначение
│ Массовая доля │ Масса навесок, г
рабочего
│ примеси кремния,
├────────────┬───────────────────
образца
│ железа, алюминия,
│ основы │
разбавляемого
сравнения
│ марганца, хрома, % │ │ образца
────────────┼────────────────────┼────────────┼───────────────────
ОС1
│1,0
│1,4960 │0,3740
(ООС)
ОС2 │0,5 │1,0000 │1,0000 (ОС-1)
ОС3 │0,2 │1,1100 │0,7400 (ОС-2)
ОС4
│0,1
│1,0000 │1,0000
(ОС-3)
ОС5 │0,05 │1,0000 │1,000 (ОС-4)
ОС6
│0,02 │0,6000 │0,4000 (ОС-5)
(Измененная
редакция, Изм. N 1).
Смеси перетирают в
ступке под слоем спирта (30 см3) в течение 1,5 - 2 ч и высушивают под
инфракрасной лампой.
Образцы сравнения
хранят в полиэтиленовых банках с критиками из полиэтилена.
4. ПРОВЕДЕНИЕ АНАЛИЗА
Навеску
анализируемой пробы массой 0,5 г помещают в платиновую чашку и прокаливают в
муфеле до постоянной массы при температуре 850 °С.
Взятую из муфельной
печи чашку с окисленным расплавом охлаждают на воздухе, смочив расплав 10 см3
спирта. Слегка деформируя стенки чашки, извлекают расплав и тщательно растирают
его с 10 см3 спирта в ступке из органического стекла. Смесь просушивают под
инфракрасной лампой до постоянной массы. Взвешивают на торсионных весах 5 мг
подготовленного образца и смешивают его с вазелином, взятым с помощью мерника,
на стеклянной пластинке с помощью шпателя. Полученную смесь наносят шпателем на
три электрода со сферическим углублением на торце.
Электрод с пробой
устанавливают в нижний держатель штатива с помощью пинцета. В верхний держатель
устанавливают угольный электрод, заточенный на выпуклую полусферу. Индекс шкалы
длин волн спектрографа устанавливают так, чтобы участок спектра около 290 нм оказался в середине спектрограммы. На промежуточном
конденсоре устанавливают диафрагму 5 мм. Между электродами зажигают дугу
постоянного тока и фотографируют спектры каждой пары электродов на
спектрографе, пользуясь трехлинзовой системой
освещения щели.
Ток дуги
поддерживают равным (15 +/- 0,5) А.
Межэлектродное расстояние
3 мм, экспозиция каждого спектра 30 с. Те же операции выполняют с образцами
сравнения, спектры которых фотографируют на ту же фотопластинку. Спектр каждого
анализируемого образца (или каждого образца сравнения) фотографируют три раза.
(Измененная
редакция, Изм. N 1).
5.
ОБРАБОТКА РЕЗУЛЬТАТОВ
5.1. В каждой из
полученных спектрограмм фотометрированием находят
почернение аналитической линии примеси (
) и
линии сравнения (
) (табл.
2) и вычисляют разности почернений
. По
трем значениям
,
полученным по трем спектрограммам, снятым для каждого образца, находят среднее
арифметическое значение (
).
Таблица 2
───────────────────────────┬──────────────────────────────────────
Аналитическая линия │Аналитическая линия элемента
сравнения
определяемого элемента │
───────────┬───────────────┼───────────────┬──────────────────────
Элемент
│Длина волны, нм│ Элемент
│ Длина волны, нм
───────────┼───────────────┼───────────────┼──────────────────────
Кремний │251,92 │Ванадий │252,03
Железо │259,84 │Ванадий │252,03
Алюминий │257,51 │Ванадий │257,65
Хром │269,84 │Ванадий │269,47
Марганец │259,29 │Ванадий │259,22
По результатам фотометрирования спектров образцов сравнения строят градуировочные графики в координатах
, где
- логарифм массовой доли определяемого
элемента в образце сравнения.
Массовую долю
кремния, железа, алюминия, хрома и марганца в сплаве находят по результатам фотометрирования спектров при помощи градуировочных
графиков.
(Измененная
редакция, Изм. N 1).
5.2. Расхождения
между результатами трех определений (разность большего и меньшего) и
результатами двух анализов не должны превышать значений допускаемых
расхождений, приведенных в табл. 3.
Таблица 3
────────────────┬────────────────┬────────────────────────────────
Определяемый │Массовая доля, %│ Допускаемые расхождения, %
элемент
│ │
────────────────┼────────────────┼────────────────────────────────
Кремний │0,02 │0,01
│0,10 │0,05
│1,0 │0,4
Железо │0,02 │0,01
│0,10 │0,05
│1,0 │0,4
Алюминий │0,10 │0,03
│0,5 │0,2
│1,0 │0,4
Хром │0,02 │0,01
│0,10 │0,05
│1,0 │0,4
Марганец │0,02 │0,01
│0,10 │0,05
│1,0 │0,4
(Измененная
редакция, Изм. N 1).
5.3. Проверка
значения контрольного опыта
Для проверки
значения контрольного опыта на шесть угольных электродов наносят смешанную с
вазелином основу анализируемого сплава и фотографируют спектры по п. 4. В
полученных спектрограммах фотометрируют плотности
почернений аналитических линий кремния, железа, алюминия, хрома и марганца (см.
табл. 2). Разность почернений (
) не
должна превышать 0,02 единицы почернений (фон измеряется в сторону более
коротких длин волн от аналитической линии).
(Измененная
редакция, Изм. N 1).