Утвержден и введен в действие
Постановлением
Госстандарта СССР
от 20 декабря 1988
г. N 4327
ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ СОЮЗА ССР
ИЗМЕРЕНИЕ ПАРАМЕТРОВ ШЕРОХОВАТОСТИ
ТЕРМИНЫ И ОПРЕДЕЛЕНИЯ
Measurement
of surface roughness parameters.
Terms and definitions
ГОСТ 27964-88
(СТ СЭВ 6134-87, ИСО 4287/2-84)
Группа Г00
ОКСТУ 0090
Дата введения
1 января 1990 года
ИНФОРМАЦИОННЫЕ
ДАННЫЕ
1. Разработан и
внесен Государственным комитетом СССР по стандартам.
Исполнители: В.В. Сажин, В.С. Лукьянов, канд. техн. наук (руководитель темы);
Г.Н. Самбурская, канд. техн. наук; Н.А. Табачникова, канд. техн. наук.
2. Утвержден и
введен в действие Постановлением Государственного комитета СССР по стандартам
от 20.12.1988 N 4327.
3. Срок первой
проверки - 1997 г.
Периодичность
проверки 10 лет.
4. Стандарт
полностью соответствует СТ СЭВ 6134-87, ИСО 4287/2-84,
ИСО 1879-81 в части "Средства измерений", ИСО 1880-79, ИСО 3274-75 в
части терминов и определений.
5. Введен впервые.
Настоящий стандарт
устанавливает термины и определения понятий, относящихся к измерению параметров
и характеристик шероховатости поверхности.
Термины,
установленные настоящим стандартом, обязательны для применения во всех видах
документации и литературы, входящих в сферу действия стандартизации или
использующих результаты этой деятельности.
1.
Стандартизованные термины с определениями приведены в табл. 1.
Таблица 1
────────────────────────────────┬──────────────────────────────────────────
Термин │ Определение
────────────────────────────────┴──────────────────────────────────────────
ПРЕОБРАЗОВАНИЕ
ПРОФИЛЯ
1.
Преобразование профиля Действие
или операция, преднамеренно или
E. Profile transformation непреднамеренно изменяющие
информацию о
F. Transformation du profil профиле на любой
стадии измерения.
Примечание.
Например, при огибании
профиля щупом,
фильтровании, записи и т.д.
2.
Преобразованный профиль Профиль,
получаемый в результате его
E. Transformed profile преобразования
F. Profil
3. Преднамеренное Преобразование профиля,
проводимое для
преобразование
профиля измерения в
соответствии с установленными
E. Intentional profile требованиями.
transformation Примечание. Например, подавление
F. Transformation volontaire низкочастотных гармоник в спектре профиля
du
profil путем
фильтрования для выделения
коротковолновой части профиля, которая при
измерении рассматривается как
шероховатость
4.
Непреднамеренное
Преобразование профиля, возникающее из-за
преобразование
профиля несовершенства измерительной
аппаратуры
E. Unintentional profile или отдельных ее частей и обычно
transformation проявляющееся
в виде искажений информации
F. Transformation involontaire о профиле.
du
profil
Примечание. Например, искажение
информации о
профиле при огибании его
щупом с
конечным радиусом вершины
5. Ощупанный профиль
Преобразованный профиль, представляющий
E. Traced profile собой геометрическое место
положений
F. Profil
центра вершины щупа при
огибании им
реального
профиля.
Примечания.
1. Для контактного щупа за
центр его
вершины принимают любую точку
рабочей
вершины.
2. Для
бесконтактного оптического щупа за
центр его вершины принимается
центр сферы,
у которой диаметр равен диаметру
сфокусированного пятна на поверхности
6.
Модифицированный профиль Преднамеренно преобразованный профиль,
E. Modified profile получаемый
в результате воздействия
F. Profil
фильтрующей системы, применяемой для
выделения той
части спектра реального
профиля,
которая должна быть учтена при
измерении параметров шероховатости
поверхности
7. Измеренный
профиль Профиль, полученный в
результате
E. Measured profile измерения
F. Profil
8. Шаг дискретизации профиля Расстояние между соседними
дискретными
по
длине
ординатами профиля при
измерении
E. Profile sampling interval параметров поверхности цифровыми методами
F. Pas de
(см. черт. 1)
du
profil
Черт. 1
9. Шаг
квантования профиля Расстояние
между соседними отсчетами при
по
уровню
измерении
значения каждой ординаты профиля
Е. Profile quantization
step цифровыми методами (черт. 1).
F. Pas de quantification Примечание. Значение ординаты профиля
du
profil округляется
при дискретном измерении
целого числа n
шагов квантования
,
,
где
- значение ординаты профиля,
полученное при дискретном измерении;
- шаг квантования профиля по уровню;
ent - функция (оператор)
выделения целой
части числа;
y - истинное
значение ординаты профиля;
n - целое
число шагов квантования в
данной ординате
профиля
10. Идеальный
оператор Алгоритм или
процедура, которые
E. Ideal operator предполагают исходное,
теоретически точное
F.
ideal определение параметров или
характеристик
поверхности
(см. черт. 2)
Черт. 2
11.
Оптимальный оператор Алгоритм или
процедура, принятые
E. Optimum operator для практического определения
параметров
F.
optimal или характеристик поверхности с
приемлемыми
затратами (черт. 2)
12. Реальный
оператор Практически
реализованный оптимальный
E. Real operator оператор.
F.
Примечание. Реальный
оператор отличается
от
оптимального оператора погрешностью
изготовления
прибора или изменением
характеристик
в течение времени (черт. 2)
13.
Методическая погрешность Разность
между значением параметра
поверхности, определенного в соответствии
E. Method error с оптимальным оператором и
истинным
F. Erreur due
la
значением этого же параметра, определенным
в соответствии
с идеальным оператором
(черт. 2)
14. Методическое
расхождение Различия, возникающие в
результате
применения разных
оптимальных операторов
E. Method divergence для получения одного и того же
значения
F. Divergence entre
данного параметра (черт. 2)
15.
Погрешность прибора Разность
между значением параметра
поверхности, определенным реальным
E. Instrument error оператором и значением этого же
параметра,
F. Erreur de l'instrument определенным оптимальным оператором
(черт. 2)
16. Полная
погрешность прибора Разность между
значением параметра
T поверхности, определенным в соответствии с
E. Total instrument error реальным оператором, и истинным
значением
F. Erreur total d'instrument этого же параметра, определенным
в
соответствии с идеальным оператором.
Примечание.
Такая погрешность включает
методическую
погрешность и погрешность
прибора (черт.
2)
17. Основная
погрешность Полная погрешность
профилометра,
профилометра определенная
при нормальных условиях,
E. Basic error of a profile включающих
стандартное входное воздействие
meter
reading на измерительный преобразователь прибора
F. Erreur de base des
indications du
СРЕДСТВА ИЗМЕРЕНИЯ
18.
Профильный метод измерения Метод оценки
шероховатости поверхности
шероховатости
поверхности по параметрам ее
преобразованных профилей
E. Profile method of
measurement of the surface
roughness
F.
du profil pour
le mesurage de la
des
surfaces
19.
Аппаратура для измерения Приборы,
позволяющие определить параметры
параметров
шероховатости шероховатости
поверхности по ее
поверхности
профильным методом преобразованным
профилям
E. Instrument for the
measurement of surface roughness
by the profile method
F. Instrument de
de la
des surfaces
par
la
du profil
20.
Контактный прибор Прибор для
измерения параметров
последовательного
преобразования шероховатости поверхности профильным
профиля методом с
последовательным преобразованием
E. Contact instrument информации о профиле при механическом
of
consecutive profile ощупывании измеряемой поверхности щупом
transformation
F. Instrument avec contact,
transformation
du
profil
21.
Бесконтактный прибор Прибор для
измерения параметров
последовательного
преобразо-
шероховатости поверхности профильным
вания
профиля методом с
последовательным преобразованием
E. Contactless instrument информации о профиле без механического
of
consecutive profile
взаимодействия с измеряемой поверхностью
transformation
F. Instrument sans contact,
transformation
du
profil
22.
Ощупывающая система прибора Узел прибора
последовательного
E. Traversing system преобразования профиля, предназначенный
of
an instrument для
первичного преобразования информации
F.
de palpage d'un об измеряемой поверхности, состоящей из
instrument датчика и системы его
перемещения
относительно
измеряемой поверхности
23.
Ощупывающая система прибора Ощупывающая система прибора, в которой
с
зависимой опорой датчик
опирается на измеряемую
E. Traversing system of an поверхность так, что эта поверхность,
instrument
with skid-dependent действуя на опору
датчика, оказывает
datum влияние на траекторию
его перемещения
F.
de palpage avec относительно поверхности
patin
d'un instrument
24.
Ощупывающая система прибора Ощупывающая система прибора, в которой
с
независимой опорой датчик не
опирается на измеряемую
E. Traversing system of an поверхность и перемещается независимо,
instrument
with the external сохраняя ориентацию
постоянной, что
reference
datum достигается путем
перемещения датчика
F.
de palpage avec по внешней базе, так что измеряемая
reference
independante d'un поверхность не
действует на датчик и не
instrument оказывает влияния на
траекторию его
перемещения
относительно поверхности
25.
Контактный прибор Прибор для
измерения параметров
одновременного
преобразования шероховатости
поверхности профильным
профиля методом с
одновременным преобразованием
E. Contact instrument информации о профиле при механическом
of
instantaneous profile взаимодействии с измеряемой поверхностью
transformation
F. Instrument avec contact,
transformation
du
profil
26.
Бесконтактный прибор Прибор для
измерения параметров
одновременного
преобразования шероховатости
поверхности профильным
профиля методом с
одновременным преобразованием
E. Contactless instrument информации о профиле без механического
of
instantaneous profile
взаимодействия с измеряемой поверхностью
transformation
F. Instrument sans contact,
transformation
du
profil
27.
Профилометр Прибор для
измерения параметров
E. Profile meter шероховатости, показывающий значения
F.
этих параметров или обеспечивающий их
регистрацию
28.
Профилометр с постоянной Профилометр, измеряющий параметр
длиной
трассы ощупывания при шероховатости
поверхности на отрезке
измерении длины, начало и конец
которого
E. Profile meter with зафиксированы
ограничителями.
predetermined traversing length Примечание. Профилометры этого типа
F.
a longueur
обычно показывают и удерживают значение
d'exploration
constante измеряемого параметра,
полученное в конце
указанного
отрезка длины
29.
Профилограф Прибор для
регистрации и измерения
E. Profile recording instrument координат
профиля поверхности в любой
F. Enregistreur форме
ХАРАКТЕРИСТИКИ СРЕДСТВ
ИЗМЕРЕНИЙ
30.
Вертикальное увеличение Масштаб
преобразования координат профиля
прибора
в направлении
перемещения щупа,
E. Vertical magnification of
a перпендикулярном к поверхности
profile recording instrument
F. Grossissement vertical d'un
31.
Горизонтальное увеличение Масштаб
преобразования координат профиля
прибора
в направлении
перемещения щупа вдоль
E. Horizontal magnification of поверхности.
a profile recording instrument Примечание. Под
масштабом преобразования
F. Grossissement horizontal понимают отношение регистрируемой величины
d'un
к перемещению щупа в соответствующем
направлении. Применительно к профилограмме
- отношение
движения пера или носителя к
перемещению
щупа в соответствующем
направлении
32.
Относительная погрешность Разность
между действительным и
вертикального
увеличения номинальным
значениями вертикального
прибора
увеличения прибора, отнесенная к
E. Relative error of vertical номинальному значению и выраженная
в
magnification of an instrument процентах
F. Erreur relative du
grossissement
vertical d'un
33.
Относительная погрешность Разность
между действительным и
горизонтального
увеличения номинальным
значениями горизонтального
прибора
увеличения прибора, отнесенная к
E. Relative error of horizontal номинальному
значению и выраженная
magnification of an instrument в процентах
F. Erreur relative du
grossissement horizontal d'un
34.
Статическое измерительное Усилие
воздействия щупа вдоль его оси
усилие на контролируемую
поверхность, без учета
E. Static measuring force динамических составляющих, возникающих
F. Effort statique de mesurage в процессе ощупывания
35. Постоянная
изменения Изменение на единицу
перемещения
измерительного
усилия статического измерительного
усилия,
E. Rate of change of the
static действующего на щуп вдоль оси
measuring force
F. Taux de variation de
l'effort
statique de mesure
36. Длина
трассы ощупывания Полная длина
участка поверхности, в
E. Traversing length пределах
которого расположен профиль
F. Longueur d'exploration измеряемой поверхности, ощупанный прибором
при измерении
(см. черт. 3)
Длина трассы
ощупывания
A - длина участка предварительного
хода датчика;
- длина участка измерения;
B - длина участка завершающего
хода датчика
Черт. 3
37. Длина
участка измерения Часть длины трассы
ощупывания, в пределах
E. Measuring length которой находится профиль,
параметры
F. Longueur de mesure которого подлежат измерению.
Примечание.
Длина участка измерения равна
длине
оценки
38. Отсечка шага
Длина волны
,
численно равная базовой
E. Cut-off длине l и условно принимаемая в качестве
F. Longueur d'onde de coupure верхней границы пропускания профилометра,
для которой установлен определенный
коэффициент
пропускания.
Примечания.
1. Для аналоговых
электрических
фильтров он равен 75%.
2. Указанная
верхняя граница условно
отделяет
номинально пропускаемые от
номинально
подавляемых компонентов спектра
профиля
2. Для каждого
понятия установлен один стандартизованный термин.
Применение терминов
- синонимов стандартизованного термина не допускается.
2.1. Приведенные
определения можно при необходимости изменять, вводя в них производные признаки,
раскрывая значения используемых в них терминов, указывая объекты, входящие в
объем определяемого понятия. Изменения не должны нарушать объем и содержание
понятий, определенных в данном стандарте.
2.2. В табл. 1
приведены в качестве справочных буквенные обозначения к ряду терминов.
2.3. В табл. 1 к
термину 36 приведен чертеж.
2.4. В табл. 1 в
качестве справочных приведены иноязычные эквиваленты стандартизованных терминов
на английском (E) и французском (F) языках.
3. Алфавитные
указатели содержащихся в стандарте терминов на русском языке и их иноязычных
эквивалентов приведены в табл. 2 - 5.
АЛФАВИТНЫЙ
УКАЗАТЕЛЬ ТЕРМИНОВ НА РУССКОМ ЯЗЫКЕ
Таблица 2
─────────────────────────────────────────────────────────┬────────
Термин │ Номер
│термина
─────────────────────────────────────────────────────────┴────────
Аппаратура
для измерения параметров шероховатости 19
поверхности
профильным методом
Длина
трассы ощупывания 36
Длина
участка измерения 37
Метод
измерения шероховатости поверхности профильный 18
Оператор
идеальный 10
Оператор
оптимальный 11
Оператор
реальный 12
Отсечка
шага
38
Погрешность
вертикального увеличения прибора
32
относительная
Погрешность
горизонтального увеличения прибора
33
относительная
Погрешность
методическая
13
Погрешность
прибора
15
Погрешность
прибора полная T
16
Погрешность
профилометра основная
17
Постоянная изменения измерительного усилия 35
Преобразование
профиля
1
Преобразование
профиля непреднамеренное
4
Преобразование
профиля преднамеренное
3
Прибор
одновременного преобразования профиля 26
бесконтактный
Прибор
одновременного преобразования профиля контактный 25
Прибор
последовательного преобразования профиля 21
бесконтактный
Прибор
последовательного преобразования профиля 20
контактный
Профилограф
29
Профилометр
27
Профилометр
с постоянной длиной трассы ощупывания
28
при
измерении
Профиль
измеренный 7
Профиль
модифицированный 6
Профиль
ощупанный 5
Профиль
преобразованный 2
Расхождение
методическое
14
Система
прибора ощупывающая 22
Система
прибора с зависимой опорой ощупывающая 23
Система
прибора с независимой опорой ощупывающая 24
Увеличение
прибора вертикальное
30
Увеличение
прибора горизонтальное
31
Усилие
измерительное статическое 34
Шаг
дискретизации профиля по длине
8
Шаг
квантования профиля по уровню
9
АЛФАВИТНЫЙ
УКАЗАТЕЛЬ ТЕРМИНОВ НА АНГЛИЙСКОМ ЯЗЫКЕ
Таблица 3
──────────────────────────────────────────────────────────────────┬────────
Термин │ Номер
│термина
──────────────────────────────────────────────────────────────────┼────────
Basic
error of a profile meter reading │ 17
Contact instrument of instantaneous
profile transformation
│ 25
Contactless instrument of consecutive
profile transformation │ 21
Contactless instrument of instantaneous
profile transformation │ 26
Contact instrument of consecutive
profile transformation
│ 20
Cut-off │ 38
Horizontal magnification of a profile
recording instrument │ 31
Ideal operator
│ 10
Instrument error
│ 15
Instrument for the measurement of
surface roughness by the profile│
19
method
│
Intentional profile transformation │ 3
Measured profile │ 7
Measuring length
│ 37
Method divergence
│ 14
Method error
│ 13
Modified profile
│ 6
Optimum operator
│ 11
Profile meter
│ 27
Profile meter with predetermined
traversing length
│ 28
Profile method of measurement of the
surface roughness │ 18
Profile quantization step
│ 9
Profile recording instrument
│ 29
Profile sampling interval
│ 8
Profile transformation
│ 1
Rate of change of the static measuring
force │ 35
Real operator │ 12
Relative error of horizontal
magnification of an instrument
│ 33
Relative error of vertical magnification
of an instrument │ 32
Static measuring force
│ 34
Total instrument error
│ 16
Traced profile
│ 5
Transformed profile
│ 2
Traversing length │ 36
Traversing system of an instrument │ 22
Traversing system of an instrument with
skid-dependent datum │ 23
Traversing system of an instrument with
the external reference │ 24
datum │
Vertical magnification of a profile
recording instrument
│ 30
Unintentional profile
transformation
│ 4
АЛФАВИТНЫЙ УКАЗАТЕЛЬ ТЕРМИНОВ НА ФРАНЦУЗСКОМ ЯЗЫКЕ
Таблица 4
─────────────────────────────────────────────────────────┬────────
Термин │ Номер
│термина
─────────────────────────────────────────────────────────┴────────
Divergence entre
14
Effort statique de
34
29
Erreur de base des indications du
profilometre 17
Erreur de l'instrument 15
Erreur due
la
13
Erreur relative du grossissement
horizontal d'un 33
Erreur relative du grossissement
vertical d'un 32
Erreur total d'instrument 16
Grossissement horizontal d'un
31
Grossissement vertical d'un
30
Instrument avec contact,
transformation
20
du profil
Instrument de
de la
des surfaces 19
par la
du profil
Instrument avec contact,
transformation
25
du profil
Instrument sans contact,
transformation
21
du profil
Instrument sans contact,
transformation
26
du profil
Longueur de mesure 37
Longueur d'exploration 36
Longueur d'onde de coupure 38
du
profil pour le mesurage de la
18
des surfaces
ideal 10
optimal 11
12
Pas de
du profil 8
Pas de quantification du profil 9
Profil
7
Profil
6
27
longueur d'exploration
constante 28
Profil
5
Profil
2
de palpage avec patin d'un
instrument 23
de palpage avec reference
independante d'un 24
instrument
Systeme de palpage d'un instrument 22
Taux de variation de l'effort statique
de mesure 35
Transformation du profil 1
Transformation involontaire du
profil 4
Transformation
volontaire du profil
3