|
| ||
|
Введен в действие Постановлением
Госстандарта РФ от 19 июня 1996 г.
N 389 МЕЖГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ СПЛАВЫ ЦИНК-АЛЮМИНИЕВЫЕ СПЕКТРАЛЬНЫЙ МЕТОД АНАЛИЗА Zinc-aluminium
alloys. Spectral method of analysis ГОСТ 30082-93 Группа В59 ОКСТУ 1709; ОКС 77.120 Предисловие 1. Разработан Восточным научно-исследовательским
горно-металлургическим институтом цветных металлов (ВНИИцветмет). Внесен
Госстандартом Республики Казахстан. 2. Принят
Межгосударственным советом по стандартизации, метрологии и сертификации 15
марта 1994 г. (Отчет N 1 МГС). За принятие
проголосовали: ┌────────────────────────────┬───────────────────────────────────┐ │ Наименование государства │ Наименование национального органа
│ │ │ по стандартизации │ ├────────────────────────────┼───────────────────────────────────┤ │Азербайджанская
Республика │Азгосстандарт │ │Республика
Белоруссия │Белстандарт │ │Республика
Казахстан │Госстандарт
Республики Казахстан │ │Республика
Молдова │Молдовастандарт │ │Российская
Федерация │Госстандарт
России │ │Республика
Туркменистан │Туркменглавгосинспекция │ │Республика
Узбекистан │Узгосстандарт
│ │Украина │Госстандарт
Украины │ └────────────────────────────┴───────────────────────────────────┘ 3. Постановлением
Комитета Российской Федерации по стандартизации, метрологии и сертификации от
19 июня 1996 г. N 389 межгосударственный стандарт ГОСТ 30082-93 введен в
действие непосредственно в качестве государственного стандарта Российской
Федерации с 1 января 1997 г. 4. Введен впервые. 1. ОБЛАСТЬ
ПРИМЕНЕНИЯ Настоящий стандарт
распространяется на цинк-алюминиевые сплавы,
предназначенные для горячего оцинкования стальной полосы, и устанавливает
спектральный метод определения алюминия, свинца, кадмия, железа и меди в
сплавах ЦА 03 и ЦА 04 при массовой доле определяемых элементов в процентах: - алюминий - от 0,1 до 0,5; - свинец " 0,06 " 0,5; - кадмий " 0,004 " 0,04; - железо " 0,005 " 0,02; - медь " 0,0005 " 0,005. Метод спектрального
анализа основан на возбуждении спектра дуговым или искровым разрядом с
фотографической или фотоэлектрической регистрацией эмиссионных спектральных
линий определяемых элементов. 2.
НОРМАТИВНЫЕ ССЫЛКИ В настоящем
стандарте использованы ссылки на следующие стандарты: ГОСТ 8.001-80 ГСИ.
Организация и порядок проведения государственных средств измерений ГОСТ 8.315-91 ГСИ.
Стандартные образцы. Основные положения, порядок разработки, аттестации,
утверждения, регистрации и применения ГОСТ 8.326-89 ГСИ.
Метрологическая аттестация средств измерений ГОСТ 83-79. Натрий
углекислый безводный. Технические условия ГОСТ 195-77. Натрий
сернистокислый безводный. Технические условия ГОСТ 4160-74. Калий
бромистый. Технические условия ГОСТ 5644-75.
Сульфит натрия безводный ГОСТ 6709-72. Вода
дистиллированная ГОСТ 17261-77.
Цинк. Спектральный метод анализа ГОСТ 19627-74.
Гидрохинон (парадиоксибензол). Технические условия ГОСТ 25086-87.
Цветные металлы и их сплавы. Общие требования к методам анализа ГОСТ 25664-83.
Метол (4-метиламинофенол сульфат). Технические условия ТУ 6-43-1475-88.
Пластинки фотографические спектрографические ПФС. Технические условия. 3. ОБЩИЕ
ТРЕБОВАНИЯ 3.1. Общие
требования к методу анализа - по ГОСТ 25086. 3.2. Образцы проб
поступают на анализ в виде стержней круглого сечения диаметром (10 +/- 0,2) мм
и длиной 50 - 100 мм или в виде цилиндров диаметром ~20 мм и высотой 10 - 20
мм. Стандартные образцы
и поступающие на анализ пробы должны быть адекватны по структуре, по форме и
размерам, анализируемая поверхность должна быть обработана одинаковым способом. 3.3. Числовые
значения результатов анализа округляют и выражают числом разрядов, равным числу
разрядов соответствующего допускаемого расхождения. 3.4. Контроль
правильности результатов анализа осуществляют по ГОСТ 25086. Частоту контроля
правильности результатов анализа устанавливают с учетом стабильности градуировочных характеристик для каждого конкретного
прибора. Внеочередной
контроль проводят после ремонта, профилактики прибора и других изменений
условий анализа. 3.5. Используемые
аналитические приборы должны пройти испытания в соответствии с ГОСТ 8.001 либо
должны быть аттестованы согласно ГОСТ 8.326 или РД 50-674. 4.
ТРЕБОВАНИЯ БЕЗОПАСНОСТИ Требования безопасности
- по ГОСТ 17261. 5.
АППАРАТУРА, МАТЕРИАЛЫ, РЕАКТИВЫ Комплект аппаратуры
для эмиссионного спектрального анализа с фотографической или фотоэлектрической
регистрацией спектра, обеспечивающей необходимую чувствительность. Станок КП-35 или
другие приспособления для обработки анализируемой поверхности СО и образцов
проб. Стандартные
образцы, разработанные в соответствии с ГОСТ 8.315. Противоэлектроды, изготовленные из углей марки С-3 по ТУ 16-538-240-74. Фотопластинки
спектрографические ПФС-02, ПФС-03, НТ-2СВ по ТУ 6-43-1475. Проявитель метол-гидрохиноновый следующего состава: Метол по ГОСТ 25664, г ......................... 1,00 +/- 0,01 Гидрохинон по ГОСТ 19627, г .................... 5,00 +/- 0,01 Сульфит натрия безводный по ГОСТ 195 или ГОСТ 5644, г ............................... 26,0 +/- 0,1 Натрий углекислый безводный по ГОСТ 83, г ...... 20,0 +/- 0,1 Калий бромистый по ГОСТ 4160, г ................ 1,00 +/- 0,01 Вода дистиллированная, по ГОСТ 6709, см3, до ... 1000 Фиксаж кислый. 6.
ПОДГОТОВКА К АНАЛИЗУ Анализируемую
поверхность проб и СО тщательно обрабатывают на станке
на полусферу (при фотографической регистрации спектров) или на плоскость (при
фотоэлектрической регистрации спектров) и протирают спиртом. На обработанной
поверхности анализируемых проб и СО не должно быть раковин, трещин, шлаковых и
неметаллических включений и других дефектов. 7.
ПРОВЕДЕНИЕ АНАЛИЗА 7.1. Спектры СО и
образцов проб, подготовленных к анализу, фотографируют на спектрографе в дуговом
или искровом режиме. В качестве противоэлектродов для СО используют соответствующий
образец, для проб - соответствующую пробу, заточенные на полусферу, при заточке
на плоскость - угольный стержень, заточенный на усеченный конус с диаметром
площадки ~1,5 мм. 7.1.1. Искровой
режим Генератор искры
работает в мягком режиме: емкость 0,01 мкФ, индуктивность 0,55 мкГн, сила тока 1,5 - 2,0 А. Ширина щели спектрографа 0,015
мм, промежуточная диафрагма круглая. Обжиг в течение 60 с,
экспозиция 30 - 35 с. 7.1.2. Дуговой
режим Дуга переменного
тока силой 2,5 - 5 А. Ширина щели спектрографа 0,015 - 0,020 мм, экспозиция 30
- 60 с. 7.2. Для проведения
анализа можно использовать прибор с фотоэлектрической регистрацией спектра,
предварительно подобрав оптимальные условия возбуждения и регистрации спектров,
позволяющие получить необходимую чувствительность и точность результатов
анализа. В качестве противоэлектрода используют
электрод, предлагаемый фирмой-изготовителем соответствующего прибора, или
угольный стержень. 8. ОБРАБОТКА
РЕЗУЛЬТАТОВ 8.1. Рекомендуемые
аналитические линии определяемых элементов и элемента сравнения - цинка (длины
волн в нм): Свинец I 283,3 или I 363,9 - цинк I 301,8 или I 307,5 Алюминий I 308,2 " " Кадмий I 361,0 " " Медь I 324,7 " " Железо I 358,1 (или II 259,9 в искровом режиме). По измеренным
значениям плотности почернений S аналитических линий определяемых элементов и
элемента сравнения определяют разность почернений С - аттестованное
значение массовой доли определяемого элемента в СО. 8.2. При
фотоэлектрической регистрации спектра можно использовать указанные аналитические
линии определяемых элементов и линии сравнения или подобрать экспериментальным
путем другие, дающие достаточную чувствительность и свободные от наложения
мешающих линий. Градуировочные графики в этом случае строят в координатах n - lgС, где n - показания
выходного измерительного прибора, пропорциональные логарифму интенсивности
линий определяемого элемента и элемента сравнения; С - аттестованное
значение массовой доли определяемого элемента в СО. Для квантометров, в которых показания выходного прибора
пропорциональны относительной интенсивности спектральных линий, градуировочные графики строят в координатах n - С. 8.3. За результат
анализа принимают среднее арифметическое результатов двух параллельных
определений (из трех спектрограмм каждое), полученных на одной фотопластинке
при фотографической регистрации, и среднее арифметическое результатов двух
параллельных определений (из трех измерений каждое) при фотоэлектрической
регистрации. 8.4. Допускаемые
расхождения двух результатов параллельных определений (d) и допускаемые
расхождения двух результатов анализа одной и той же пробы (D) при доверительной
вероятности 0,95 не должны превышать значения, указанные в таблице 1. Таблица 1 Абсолютные
допускаемые расхождения В процентах ┌─────────────┬──────────────┬─────────────────┬─────────────────┐ │Определяемый │Массовая доля │Расхождения двух
│Расхождения двух │ │ элемент
│ элементов │
результатов │ результатов │ │ │ │
параллельных
│ анализа │ │ │ │ определений
│ │ ├─────────────┼──────────────┼─────────────────┼─────────────────┤ │Алюминий │0,10 │0,03 │0,03 │ │ │0,30 │0,10 │0,10 │ │ │0,50 │0,17 │0,17 │ │Свинец │0,060 │0,017 │0,017 │ │ │0,10 │0,03 │0,03 │ │ │0,30 │0,08 │0,08 │ │ │0,60 │0,17 │0,17 │ │Кадмий │0,0040 │0,0006 │0,0009 │ │ │0,010 │0,002 │0,002 │ │ │0,020 │0,003 │0,004 │ │ │0,040 │0,006 │0,009 │ │Железо │0,0050 │0,0013 │0,0017 │ │ │0,010 │0,003 │0,003 │ │ │0,020 │0,005 │0,007 │ │Медь │0,00050 │0,00010 │0,00017 │ │ │0,0010 │0,0002 │0,0003 │ │ │0,0020 │0,0004 │0,0007 │ │ │0,0050 │0,0010 │0,0017 │ └─────────────┴──────────────┴─────────────────┴─────────────────┘ Допускаемые
расхождения для промежуточных массовых долей примесей рассчитывают методом
линейной интерполяции или по формулам:
где
| ||
|
| ||
|
|